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作者: 深圳市中凈環(huán)球凈化科技有限公司發(fā)表時間:2022-12-06 18:06:32瀏覽量:1061【小中大】
凈化潔凈廠房表面潔凈度符合性的規(guī)程
根據(jù)用戶方的要求,并經(jīng)雙方商定后的凈化潔凈廠房表面潔凈度的符合性,需要經(jīng)過測試,并用包括測試條件和測試結(jié)果的報告予以證明。
潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境某具體場所的表面潔凈度符合性的驗證測試,應(yīng)采取適宜的測試方法和使用在有效校準(zhǔn)期內(nèi)的合適儀器進(jìn)行測試。由于情況較復(fù)雜,未知干擾因素較多,宜重復(fù)測量多次,以給出可靠的結(jié)果。
因靜電作用會增多表面的粒子沉降或附著,測試前通常應(yīng)事先采取措施降低測試區(qū)范圍的靜電荷。如非導(dǎo)電表面也未接地或中和電荷就可能產(chǎn)生靜電電荷,以至可能影響測試結(jié)果。
1.凈化潔凈廠房表面特性、粒子形狀等影響因素
在確定表面潔凈度分級測試方法和相應(yīng)測量儀器之前,須對被測表面的特性以及可能沉降和附著其上的粒子的性狀,都應(yīng)有所了解、分析和判定,這是順利完成測試工作的必要條件。這些特性的判定技術(shù),應(yīng)該說并非潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境普通工作人員所須掌握的。為做好表面潔凈度分級測試工作,需要其他專業(yè)的技術(shù)人員予以支持和幫助。
1.1被測試表面特性
影響測試結(jié)果的被測試表面的物理、化學(xué)特性主要包括:
(1)表面能量狀態(tài),例如:表面的內(nèi)聚/黏附特性或親水/疏特性。因為這些特性會影響粒子的吸引和剝離。
(2)表面的孔隙率。一般來說孔隙率越高,表面本身的瑕疵與附著粒子的區(qū)分越困難,而光潔平滑的表面較為簡單。
(3)表面的粗糙度、波紋度。一般情況下越粗糙、越不平滑的表面,直接探測粒子較困難,采用間接法時剝離粒子的效率也受影響。
(4)表面的可清潔性。如果表面本身難以清潔,粒子探測與表面自身瑕疵的區(qū)分往往復(fù)雜,而易于清潔的表面則容易。
(5)表面光學(xué)特性。若采用直接測試法測量時,待測表面的不同光學(xué)特性,將產(chǎn)生不同的測量結(jié)果。因此選取測量方法時須關(guān)注表面自有的光學(xué)特性。
(6)表面的電磁特性。表面的靜電特性或磁特性,對帶靜電和帶磁性的顆粒物可產(chǎn)生吸引作用,影響與其的剝離。
1.2粒子的形狀
(1)粒子本身的外形和電磁特性,可能影響測量結(jié)果。
(2)粒子形狀的其他影響:如從表面剝離出的長形粒子和圓形粒子,其光學(xué)粒子計數(shù)器的測值可能相同,但其重力值完全不同。一般長寬比大于或等于10的粒子認(rèn)作為纖維。
1.3某些表面特性的測試方法
表面特性是選擇表面潔凈度分級測試方法的重要依據(jù),一般應(yīng)將表面特性的判定結(jié)果反映在潔凈度分級測試報告中,作為輔助說明。
(1)粗糙度
表面粗糙度對表面的許多物理特性都有影響。粗糙度存在兩個基本平面:表面所在的平面視為“質(zhì)地”,與表面呈直角的平面,其特性可用高度描述。通常以波紋度描述表面粗糙度的特性。
測定粗糙度常用的光學(xué)方法是使用顯微鏡法(光學(xué)、共聚焦、干涉法等)。測量粗糙度的機(jī)械方法是使用觸針式儀器??蓞⒖肌懂a(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu) 輪廓法評定表面結(jié)構(gòu)的規(guī)則和方法》。
(2)孔隙率
孔隙率是對材料內(nèi)中空空間的量度,以0~100%間的百分?jǐn)?shù)表示??傮w積中流體能有效地在其中流過的那部分體積(不包括不相連的空孔洞或空穴)占總體積的比率,稱之為有效孔隙率,也稱為開孔率。中凈環(huán)球凈化可提供潔凈廠房、凈化車間的咨詢、規(guī)劃、設(shè)計、施工、安裝改造等配套服務(wù)。
直徑≥50nm的孔稱為大孔,流體流經(jīng)大孔是以體相擴(kuò)散形式出現(xiàn)的;2nm≤直徑<50nm的孔,稱為介孔;直徑<2nm的孔稱之為微孔,微孔中的流體運(yùn)動屬于活性擴(kuò)散。
測定孔隙率的方法有:體積/密度法較簡單。用材料重量除以材料密度,即可得出減去孔的容積后材料所占據(jù)的體積。其精度一般在實際孔隙率的±20%以內(nèi),此外還可采用水飽和法、壓汞法。對于精細(xì)孔隙率還可以采用氮氣吸附法。
1.4靜電
此處的靜電是指材料表面上電子不平衡產(chǎn)生的電荷。這種電子不平衡產(chǎn)生的靜電場會影響表面潔凈度的測定,特別是對表面粒子采用間接測量方法時。測量待測表面的靜電放電(ESD)特性,有助于評估其對表面粒子剝離影響。
2.凈化潔凈廠房表面潔凈度測試報告
各規(guī)定測試表面的測量結(jié)果,以綜合報告的形式提交,并說明與要求的表面潔凈度(SCP)等級相符與否。測試報告至少應(yīng)包括以下各項:
(1)基本資料
測試日期和時間;
測試單位的名稱,資質(zhì),地址;
測試人員姓名,職稱。
(2)參照文件
所參照標(biāo)準(zhǔn)、指南、規(guī)定及相應(yīng)的出版編號。本部分的編號為:《潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境 第9部分:按粒子濃度劃分表面潔凈度等級》。
(3)環(huán)境狀況
采樣時環(huán)境狀況(溫度、濕度、潔凈度等);
間接法測量時環(huán)境條件(溫度、濕度、潔凈度等);
測量所在位置(房間等)。
(4)樣本資料
對測試對象的清楚識別;
對測試對象的詳細(xì)說明;
測試樣本的圖樣和草圖;
測試方案。
(5)測試方案的說明材料
a.測量設(shè)備
所采用儀器和裝置的型號、出廠日期等,及有效期內(nèi)的校準(zhǔn)證書;儀器的測量范圍、量程、精度等。
b.測試工作
所用測試方法的相關(guān)詳情,對偏離測試方法的可用數(shù)據(jù)的說明;所測表面的明確位置和面積,并注明表面具體坐標(biāo);
采樣前的表面條件(如清潔后,包裝后,處于大氣和真空環(huán)境等);
規(guī)定的檢測和測量步驟、方法;
采樣及測量期間的室內(nèi)占用狀態(tài);
所有商定的文件(如原始數(shù)據(jù),背景粒子濃度,圖片,清潔和包裝);
使用間接方法時,采樣持續(xù)時間、地點和位置;
直接測量時持續(xù)的時間和位置;
測量或采樣期間值得關(guān)注的觀測結(jié)果(如適用);
所進(jìn)行的測量次數(shù)。
c.測試結(jié)果與分析
測量值和對測量值的分析;
數(shù)據(jù)質(zhì)量說明;
所進(jìn)行的全部測試結(jié)果,包括給定的粒徑粒子濃度值;
按粒子濃度劃分的表面潔凈度,以SCP N 級表示;
潔凈度表面的驗收標(biāo)準(zhǔn),如供需雙方事先有約定。
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